光电检测仪器研发制造
  1. 微观形貌检测技术:

    WLI系列白光干涉系统和LSWLI大视场白光干涉系统基于白光干涉仪原理、结合Z向精密压电扫描模块和三维重建算法准确获得各种精密器件和材料表面形貌数据,适用于反射率0.05%-100%、超光滑至粗糙等多种表面测量要求,能够实现纳米级精度测量、重构表面形貌3D轮廓。

  2. 3D轮廓检测技术:

    OptiLaser激光3D扫描轮廓仪突破了黑色、高反和透明器件无法直接进行三维扫描的行业难题,将激光3D轮廓测量精度提升至微米级别,可实现复杂形貌透镜、反射镜、阵列结构等器件3D形貌的快速高精度测量,同时能够实现透明器件上下表面3D形貌同步测量,并根据行业需求设计具备强大的后处理分析功能、多参数评价计算分析功能的一体化测量与分析软件。

  3. 表面缺陷检测系统:

    光学元件表面缺陷系统克服了光学元件因其光学特性导致成像效果不良等困难,运用数字成像技术、多自由度轴系运动控制和AI深度学习等技术定向解决了普通型、高透射型和高反射型光元件表面微小缺陷识别难题。Defect Ai可以对多种面型和尺寸的光学元件进行全自动在线/离线快速检测,具备快速、高效和精准量化等特点,广泛应用于光学制造、3C、汽车等领域。

    机械制造产品表面缺陷检测系统针对机械制造领域客户对于零部件表面缺陷检测存在判断标准不统一、数字化管理、人员疲劳和成本上升等难题,研制和开发了铸造零件表面、机械加工表面、内腔表面、柱状零件表面、反射镜表面和透镜表面缺陷检测系统。




应用案例

 显微白光干涉系统

 大视场白光干涉系统

 3D轮廓检测技术

 光学元件表面缺陷检测系统

 机械制造产品表面缺陷检测系统